这里用E电动势作为电动势的符号，以区别于电场强度E。这个问题的提出和教材（包括一些大学教材）有关。教材常把用电源对电容器充放电过程表示为图6.9。这样表示有三个问题：1.只用电动势E电动势不能完全表示电源的特性，电源的特性必须用电动势E电动势和内阻r两个物理量描述，脉冲形成网络零售，不存在内阻r＝ 0的电源。2.实际充电过程中电源内阻r可以起到限制充电电流的作用；但是如果电容器的电容较大、电源电动势较高，还需要在电路中串接限流电阻以防止充电电流过大损坏电源和电流表。3.如果电容器电容较大且充电电压较高，放电时也应增加限流电阻，以免损坏电流表。
下面就讨论电源给电容器充电的过程中能量的分配问题，脉冲形成网络厂商，设电源电动势和电容器电容量都不大，充电电路如图6.10和图6.11所示。图6.10 和图6.11 是一样的，泗洪脉冲形成网络，只是对电源的表示方法不同，图6.10 中把电源电动势和内阻分开表示，图6.11中把电源电动势和内阻合起来标注在电源下方，这样才是电源的正确表示方法。
电容的选择。选择旁路电容和去耦电容时，并非取决于电容值和大小，而是电容的自 谐振频率，并与所需旁路式去耦的频率相匹配。在自谐振频率以下电容表现为容性，在自 谐振频率以上电容变为感性，这将会减小 RF 去耦功能。再看看常用的两种瓷片电容的自谐 振频率。
综上可得，使用去耦电容重要的一点就是电容的引线电感。表贴电容比插件电容高 频时有很好的效能，就是因为它的引线电感很低。
并联电容。若有些电路中滤波效果不好，可以采用并联电容的方式来增加滤波效果， 但不是随意的增加并联的个数或随意放置几个电容，这样只会浪费材料。
滤波。滤波是将信号中特定波段频率滤除的操作，是抑制和防止干扰的一项重要
措施，通俗点讲就是将想要的留下，不想要的统统干掉。
爆浆的种类：
分两类，输入电容爆浆和输出电容爆浆。
对于输入电容来说，就是在电源电路中体积较大、容易较大、额定电压高的电容器，对接收到的电流进行过滤。输入电容爆浆和电源输入电流及电容器本身的品质有关。过多的毛刺电压，峰值电压过高，电流不稳定等都使电容过于充放电过于频繁，长时间处于这类工作环境下的电容，内部温度升高很快。超过泄爆口的承受极限就会发生爆浆。
对于输出电容来说，对经电源模块调整后的电流进行滤波与储能。此处电流经过一次过滤，比较平稳，发生爆浆的可能性相对来说小了不少。但如果环境温度过高，电容同样容易发生爆浆。
电容爆浆的原因有很多，比如电流大于允许的稳波电流、使用电压超出工作电压、逆向电压、频繁的充放电等。但是直接的原因就是高温。我们知道电容有一个重要的参数就是耐温值，指的就是电容内部电解液的沸点。当电容的内部温度达到电解液的沸点时，脉冲形成网络推荐，电解液开始沸腾，电容内部的压力升高，当压力超过泄爆口的承受极限就发生了爆浆。所以说温度是导致电容爆浆的直接原因。电容设计使用寿命大约为2万小时，受环境温度的影响也很大。电容的使用寿命随温度的增加而减小，实验证明环境温度每升高10℃，电容的寿命就会减半。主要原因就是温度加速化学反应而使介质随时间退化失效，这样电容寿命终结。为了保证电容的稳定性，电容在插板前要经过长时间的高温环境的测试。即使是在100℃，的电容也可以工作几千个小时。同时，提到的电容的寿命是指电容在使用过程中，电容容量不会超过标准范围变化的10%。电容寿命指的是电容容量的问题，而不是设计寿命到达之后就发生爆浆。只是无法保证电容的设计的容量标准。所以，短时期内，正常使用的板卡电容就发生爆浆的情况，这就是电容品质问题。另外，不正常的使用情况也有可能发生电容爆浆的情况。
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