爆浆的种类：
分两类，输入电容爆浆和输出电容爆浆。
对于输入电容来说，就是在电源电路中体积较大、容易较大、额定电压高的电容器，对接收到的电流进行过滤。输入电容爆浆和电源输入电流及电容器本身的品质有关。过多的毛刺电压，谐振电容器厂，峰值电压过高，电流不稳定等都使电容过于充放电过于频繁，长时间处于这类工作环境下的电容，谐振电容器推荐，内部温度升高很快。超过泄爆口的承受极限就会发生爆浆。
对于输出电容来说，对经电源模块调整后的电流进行滤波与储能。此处电流经过一次过滤，比较平稳，发生爆浆的可能性相对来说小了不少。但如果环境温度过高，电容同样容易发生爆浆。
电容爆浆的原因有很多，比如电流大于允许的稳波电流、使用电压超出工作电压、逆向电压、频繁的充放电等。但是直接的原因就是高温。我们知道电容有一个重要的参数就是耐温值，指的就是电容内部电解液的沸点。当电容的内部温度达到电解液的沸点时，电解液开始沸腾，电容内部的压力升高，当压力超过泄爆口的承受极限就发生了爆浆。所以说温度是导致电容爆浆的直接原因。电容设计使用寿命大约为2万小时，受环境温度的影响也很大。电容的使用寿命随温度的增加而减小，实验证明环境温度每升高10℃，电容的寿命就会减半。主要原因就是温度加速化学反应而使介质随时间退化失效，这样电容寿命终结。为了保证电容的稳定性，电容在插板前要经过长时间的高温环境的测试。即使是在100℃，的电容也可以工作几千个小时。同时，提到的电容的寿命是指电容在使用过程中，电容容量不会超过标准范围变化的10%。电容寿命指的是电容容量的问题，而不是设计寿命到达之后就发生爆浆。只是无法保证电容的设计的容量标准。所以，短时期内，正常使用的板卡电容就发生爆浆的情况，这就是电容品质问题。另外，不正常的使用情况也有可能发生电容爆浆的情况。
其实，高速系统中所有的实际接收1器都会有门输入电容，一般约为2pF。对于特性阻抗为50欧姆时，接收1器的RC上升时间大约为2.2*50*2=0.2ns。当Tr=1ns时，这个附加的0.2ns延迟几乎无法辨认，也就不重要了；但是如果当Tr=0.1ns时，谐振电容器型号，那么0.2ns的时延就make a difference!
高速系统设计中一个“时髦”的术语就是串扰，它是一个信号干扰另一个信号引起的噪声，这主要是由相邻信号的容性耦合而引起的，原因是一个信号的变化会向邻近信号注入电荷从而干扰它们的电压。
电容的选择。选择旁路电容和去耦电容时，并非取决于电容值和大小，而是电容的自 谐振频率，并与所需旁路式去耦的频率相匹配。在自谐振频率以下电容表现为容性，在自 谐振频率以上电容变为感性，这将会减小 RF 去耦功能。再看看常用的两种瓷片电容的自谐 振频率。
综上可得，使用去耦电容重要的一点就是电容的引线电感。表贴电容比插件电容高 频时有很好的效能，就是因为它的引线电感很低。
并联电容。若有些电路中滤波效果不好，上海谐振电容器，可以采用并联电容的方式来增加滤波效果， 但不是随意的增加并联的个数或随意放置几个电容，这样只会浪费材料。
滤波。滤波是将信号中特定波段频率滤除的操作，是抑制和防止干扰的一项重要
措施，通俗点讲就是将想要的留下，不想要的统统干掉。
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